 М. А. ПОРАЙ-КОШИЦ

 Основы структурного анализа химических соединений

 Издание 2-е, переработанное и дополненное

 Допущено Государственным комитетом СССР по народному образованию в качестве учебного пособия для студентов химических специальностей университетов

 МОСКВА «ВЫСШАЯ ШКОЛА» 1989

 Порай-Кошиц М. А.
 Основы структурного анализа химических соединений: Учеб. пособие. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Высш. школа, 1989. — 192 с: ил.
 ISBN 5-06-000074-5
 Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
 Предназначается для студентов химических специальностей университетов.

 Учебное издание
 Порай-Кошиц Михаил Александрович
 ОСНОВЫ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
 ХИМИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ